光學(xué)薄膜厚度測量儀是一種非接觸式測量儀器，一般會運(yùn)用在生產(chǎn)廠商生產(chǎn)產(chǎn)品的過程，由于誤差經(jīng)常會導(dǎo)致產(chǎn)品全部報廢，這時候就需要運(yùn)用光學(xué)薄膜厚度測量儀來介入到生產(chǎn)環(huán)境，避免這種情況的發(fā)生。由于是光學(xué)測量，在測量時候無須擔(dān)心破壞樣品，讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內(nèi)就可測量結(jié)果。

　　光學(xué)薄膜厚度測量儀的優(yōu)點：

　　1.非接觸式測量

　　光學(xué)薄膜厚度測量儀采用的原理是通過光的反射原理對膜層厚度進(jìn)行測量，屬于非接觸式測量方法，不會對樣品造成任何損傷，能夠樣品的完整性。

　　2.測量數(shù)據(jù)多樣

　　可以測得物體的膜厚度和n，k數(shù)據(jù)，這是其它類型的膜厚儀所不具備的特點。

　　3.測量快速

　　光學(xué)薄膜厚度測量儀的測量過程非常快速，因為該設(shè)備采用了的結(jié)構(gòu)設(shè)計，能夠程度的提升測量效率，相比于其他類型膜厚測量設(shè)備來說顯得非常輕巧方便。

　　4.適用范圍廣

　　光學(xué)薄膜厚度測量儀的適用范圍非常廣泛，從普通家用到工廠的工業(yè)生產(chǎn)，再到大學(xué)實驗室和科學(xué)研究所，都可以看到它的身影，由此可見它的使用范圍廣泛，能夠作業(yè)的場合也變得更加多樣化。

　　光學(xué)薄膜厚度測量儀主要應(yīng)用在：

　　半導(dǎo)體行業(yè)如：光刻膠的厚度測量；加工膜層的厚度測量，介電層的厚度測量等。

　　液晶顯示器行業(yè)如：OLED領(lǐng)域各種透明薄膜的厚度測量，玻璃上面涂層的厚度測量等

　　光學(xué)鍍層行業(yè)如：硬涂層，抗反射層等涂層厚度測量。

　　生物醫(yī)學(xué)行業(yè)如：聚對二甲苯，醫(yī)療器械等領(lǐng)域可透光涂層膜厚的測量。

　　光學(xué)薄膜厚度測量儀應(yīng)用領(lǐng)域廣闊，適用于多種行業(yè)以及大學(xué)實驗室等，提供低至納米級別的薄膜厚度測量可能。

　　以上就是今天為大家?guī)黻P(guān)于光學(xué)薄膜厚度測量儀的相關(guān)科普介紹，供大家探討和參考！