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淺析光學表面輪廓儀在摩擦學領域的應用

2019-08-22 [1291]
   光學表面輪廓儀可以測量較光滑或非常粗糙的表面高度。借助消除虛焦部分光線的共焦成像系統,可提供高對比度的圖像。籍由表面的垂直掃描,物鏡的焦點掃過表面上的每一個點,以此找出每個像素位置的對應高度(即共聚焦圖像)。
  光學表面輪廓儀可以由其光學組件實現超高的水平解析度,空間采樣可以減小到0.10μm,這是一些重要尺寸測量的理想選擇。高數值孔徑na(0.95)和放大倍率(150x和200x)的物鏡可測量斜率超過70°的光滑表面。neox具有*的光效,專有的共聚焦算法可提供納米級的垂直方向重復性。超長工作距離(slwd)可測量高寬比較大、形狀較陡的樣品。下面我們介紹下光學表面輪廓儀在摩擦學領域的應用。
  當兩種材料表面進行機械接觸并且彼此產生相對滑動時,在這兩者表面之間就會發生復雜的微觀相互作用影響摩擦行為。
  影響摩擦行為的因素有許多,主要包括部件的材料組成,表面的形貌特征以及周圍的環境條件,例如溫度、氣體氛圍以及化學和生物環境等。摩擦學在許多不同的行業內都受到了廣泛的研究與重視,包括從航空航天、汽車系統到醫療植入物和一些工業設備領域等。
  使用恰當的表面計量工具來測量和分析工程材料表面,有助于人們揭示摩擦行為發生的根本原因,并使工程師能夠更加快速的做出相應的明智決策。
  光學表面輪廓儀是用于表面測量的儀器
  一般情況下,使用一臺簡單的光學顯微鏡或者掃描電子顯微鏡就可以對材料表面進行成像表征。雖然這些成像儀器能夠較好的提供材料表面上的一般形態信息,但它們并不能進行關鍵表面紋理參數的定量測量,例如ISO 25178標準中所定義的一些參數。
  光學表面輪廓儀是量化功能表面紋理參數的理想工具,它對于幾乎所有與另一部分接觸的機械部件都具有非常重要的測試價值。
  基于白光干涉測量(WLI)的光學表面輪廓儀是毫米級到納米級別上精密表面測量中,可重復性高且測試速度快的方法之一。
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